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口頭

Proton and argon ion beam induced luminescence of europium complexes in porous silica-based adsorbents

中原 将海; 渡部 創; 百合 庸介*; 湯山 貴裕*; 石坂 知久*; 石井 保行*; 山縣 諒平*; 山田 尚人*; 江夏 昌志*; 加田 渉*; et al.

no journal, , 

抽出クロマトグラフィ用吸着材の錯体構造を把握するために、荷電粒子誘起発光分析を行った。本実験では、量子科学技術研究開発機構のイオン照射施設においてシングルエンド加速器から得られる陽子ビーム及びサイクロトロン加速器から得られるアルゴンイオンビームを利用した。これらの異なるビームから得られる荷電粒子誘起発光スペクトルと錯体構造との相関に関する研究結果を報告する。

口頭

Evaluation of remaining spent extraction solvent in vermiculite by PIXE analysis

荒井 陽一; 渡部 創; 長谷川 健太; 岡村 信生; 渡部 雅之; 武田 啓佑*; 福元 博基*; 吾郷 友宏*; 羽倉 尚人*; 塚原 剛彦*

no journal, , 

The spent extraction solvent, which mainly consists of tributyl phosphate (TBP) and normal dodecane, is generated by solvent extraction of Plutonium and Uranium in the reprocessing. The spent solvent should be appropriately treated for disposal or storage. One of the treatment options for storage of the spent solvent is adsorption of the liquid into vermiculite. Our previous experiments on the adsorption of spent solvent into the vermiculite have shown that some parts of loaded solvent gradually leaked out from the vermiculite. In order to investigate the adsorption mechanism and capacity more precisely, elution behavior of loaded solvent into hexane or acetone was evaluated. In this study, the adsorption capacity of the vermiculite was evaluated through amount of remaining solvent after washing with diluents. The amount of the remaining solvent was analyzed by Particle Induced X-ray Emission (PIXE) on P contained in TBP. Peak intensity of P-K$$alpha$$ line depended on the washing condition, and the behavior qualitatively agreed with the results of the leaching test.

口頭

Characterization of precipitation formed in simulated high level liquid waste

渡部 創; 高畠 容子; 岡村 信生; 渡部 雅之; 持木 幸一*; 羽倉 尚人*

no journal, , 

抽出クロマトグラフィプロセスの妨害となる、高レベル放射性廃液中で発生する沈殿物の物性評価を行うため、模擬高レベル放射性廃液中の沈殿物を採取し、PIXE及びEXAFSによる評価を行った。PIXEスペクトルを解析することによって、沈殿物の構成元素の割合を定量的に示すことに成功し、沈殿物に含まれるTeやRuの化学形態についてEXAFSの結果から考察を行った。

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